Vermessung von Kristallstrukturen mit Methoden der Bildverarbeitung und Statistik (German, Paperback)


Diplomarbeit aus dem Jahr 1999 im Fachbereich Informatik - Technische Informatik, Note: 1, Rheinische Friedrich-Wilhelms-Universitat Bonn, Sprache: Deutsch, Abstract: Methoden der Bildverarbeitung werden in der Materialforschung benutzt, um Verzerrungen atomarer Grossenordnung vorwiegend in kristallinen Halbleiterheterostrukturen lokal quantitativ zu erfassen. Damit lassen sich andere Grossen wie lokale Gitterkonstanten und lokale Konzentrationen errechnen und Ruckschlusse auf Wachstumseigenschaften ziehen. Diese Informationen werden benotigt, um bestimmte Eigenschaften der Heterostrukturen zu verbessern, die die Grundlage elektronischer und optoelektronischer Bauelemente wie hochintegrierter Mikrochips, Halbleiterlaser und Leuchtdioden sin

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Product Description

Diplomarbeit aus dem Jahr 1999 im Fachbereich Informatik - Technische Informatik, Note: 1, Rheinische Friedrich-Wilhelms-Universitat Bonn, Sprache: Deutsch, Abstract: Methoden der Bildverarbeitung werden in der Materialforschung benutzt, um Verzerrungen atomarer Grossenordnung vorwiegend in kristallinen Halbleiterheterostrukturen lokal quantitativ zu erfassen. Damit lassen sich andere Grossen wie lokale Gitterkonstanten und lokale Konzentrationen errechnen und Ruckschlusse auf Wachstumseigenschaften ziehen. Diese Informationen werden benotigt, um bestimmte Eigenschaften der Heterostrukturen zu verbessern, die die Grundlage elektronischer und optoelektronischer Bauelemente wie hochintegrierter Mikrochips, Halbleiterlaser und Leuchtdioden sin

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Product Details

General

Imprint

Examicus Verlag

Country of origin

United States

Release date

2013

Availability

Expected to ship within 10 - 15 working days

First published

August 2013

Authors

Dimensions

210 x 148 x 6mm (L x W x T)

Format

Paperback - Trade

Pages

96

ISBN-13

978-3-86746-194-8

Barcode

9783867461948

Languages

value

Categories

LSN

3-86746-194-5



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