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Sell On LootOberflachenanalytische Charakterisierung Von Metallischen Verunreinigungen Und Oxiden Auf GAAS (German, Paperback, 1997 ed.)
Der Autor entwickelt ein Verfahren zum quantitativen Nachweis von metallischen Spurenelementen, das es moglich macht, Oberflachenbelegungen auf GaAs mit sehr geringen Konzentrationen quantitativ nachzuweisen."
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Product Description
Der Autor entwickelt ein Verfahren zum quantitativen Nachweis von metallischen Spurenelementen, das es moglich macht, Oberflachenbelegungen auf GaAs mit sehr geringen Konzentrationen quantitativ nachzuweisen."
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Product Details
General
Imprint | Deutscher Universitats Verlag |
Country of origin | Germany |
Release date | September 1997 |
Availability | Expected to ship within 10 - 15 working days |
First published | September 1997 |
As told to | Frank Schroeder-Oeynhausen |
Dimensions | 210 x 148 x 8mm (L x W x T) |
Format | Paperback - Trade |
Pages | 138 |
Edition | 1997 ed. |
ISBN-13 | 978-3-8244-2091-9 |
Barcode | 9783824420919 |
Languages | value |
Subtitles | value |
Categories | Books - All Books  Books - Business & EconomicsBusiness & managementManagement & management techniquesGeneral |
LSN | 3-8244-2091-0 |
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